1. высокому значению соотношения “сигнал-шум”;
2. неудовлетворительной сокристаллизации с веществом матрицы;+
3. низкому значению соотношения “сигнал-шум”;+
4. разрушению вещества матрицы;
5. разрушению материала электропроводного носителя.
1. высокому значению соотношения “сигнал-шум”;
2. неудовлетворительной сокристаллизации с веществом матрицы;+
3. низкому значению соотношения “сигнал-шум”;+
4. разрушению вещества матрицы;
5. разрушению материала электропроводного носителя.