2) малая чувствительность
3) необходимость перенастройки аппаратуры для определения каждого элемента (+)
4) сложность проведения количественного анализа
Атомно-абсорбционная спектроскопия основана на измерении поглощения атомами элемента светового излучения с длиной волны, характерной именно для этого элемента. В классическом атомно-абсорбционном спектрометре применяют источник излучения с узкой спектральной линией — обычно лампу с полым катодом, изготовленную для определяемого элемента. Поэтому при переходе к анализу другого элемента требуется заменить источник, выбрать соответствующую аналитическую линию и, как правило, скорректировать условия атомизации и настройки монохроматора.
Именно элементная специфичность аппаратуры определяет необходимость её перенастройки при последовательном определении нескольких элементов. Это снижает производительность многоэлементного анализа по сравнению с методами, способными регистрировать широкий спектр одновременно. Современные приборы могут иметь автоматическую смену ламп и многоканальные системы, однако принципиальная зависимость измерения от конкретного элемента сохраняется.
Малая чувствительность не является типичным ограничением метода: атомно-абсорбционная спектроскопия отличается высокой селективностью и позволяет определять многие элементы на уровне следовых концентраций. Количественный анализ также не считается чрезмерно сложным, поскольку выполняется по градуировочной зависимости с учётом холостого опыта, матричных эффектов и подходящего способа атомизации. Основной недостаток заключается в преимущественно последовательном, а не универсальном одновременном определении элементов.
| Метод | Аналитический сигнал | Основное преимущество | Ограничение или особенность |
|---|---|---|---|
| Атомно-абсорбционная спектроскопия | Поглощение атомами резонансного излучения | Высокая селективность и хорошая чувствительность при определении конкретного элемента | Необходимы отдельная лампа, аналитическая линия и настройка условий для каждого элемента |
| Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой | Излучение возбужденных атомов и ионов | Быстрый многоэлементный анализ в широком диапазоне концентраций | Более высокая стоимость оборудования и возможные спектральные интерференции |
| Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой | Регистрация ионов по отношению массы к заряду | Очень низкие пределы обнаружения и одновременное определение многих элементов | Высокая стоимость, требования к чистоте реактивов и необходимость контроля полиатомных интерференций |
| Пламенная фотометрия | Интенсивность эмиссии атомов в пламени | Простота и удобство определения щелочных и щелочноземельных металлов | Более узкий круг определяемых элементов и меньшая универсальность |
| Молекулярная абсорбционная спектрофотометрия | Поглощение света молекулами или окрашенными комплексами | Пригодность для анализа соединений, не дающих свободных атомов в измеряемых условиях | Возможны перекрывание полос, влияние окраски и необходимость проведения химической реакции |
| Рентгенофлуоресцентный анализ | Характеристическое рентгеновское излучение элементов | Многоэлементный анализ с минимальной подготовкой образца | Зависимость результатов от состава матрицы и более ограниченная чувствительность для лёгких элементов |
Таким образом, ограничение связано не с принципиальной невозможностью количественного определения и не с низкой чувствительностью, а с элемент-специфичной конструкцией измерительной системы. Для повышения производительности применяют автоматическую смену ламп, последовательные анализаторы или переходят к ICP-OES и ICP-MS. Выбор метода зависит от числа определяемых элементов, их концентраций, состава матрицы и требуемой скорости анализа.